11月5日消息，据科技资讯网9to5mac报道，iPhone6 Plus由于NAND闪存导致崩溃将面临大规模“召回”的消息并不真实。

　　多家媒体引用Business Korea网站台湾《中时电子报》的报道称，许多用户的iPhone 6 Plus频繁死机，原因可能是由于TLC NAND存储器控制IC存在缺陷。于是媒体纷纷报道称，苹果可能会召回有问题的iPhone 6 Plus。

　　然而9to5mac从知情人士处证实，这些报道完全失实。仅有极少量用户的iPhone出现了频繁死机的问题，在苹果官方支持论坛上，约有159个帖子反映出现这一问问题，并且其中大多数出自一人之手。帖子中，这些用户安装了大量软件应用，约500-1000。知情人士称，苹果已经获悉这一罕见的bug，并称媒体报道的设备死机是由于NAND闪存的报道仅是推测，并不准确。